Normas do comitê: CB-003: ELETRICIDADE com a palavra-chave: SEMICONDUTOR
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NBR15204 de 03/2005 - Conversor a semicondutor - Sistema de alimentação de potência ininterrupta com saída em corrente alternada (nobreak) - Segurança e desempenho
Esta Norma fixa as características mínimas exigíveis de segurança e desempenho para conversor a semicondutor - sistema de alimentação de potência ininterrupta com sáida em corrente alternada (nobreak) de tensão monofásico, com saída de tensão alternada...
NBR15014 de 12/2003 - Conversor a semicondutor - Sistema de alimentação de potência ininterrupta, com saída em corrente alternada (nobreak) - Terminologia
Esta Norma define os termos e definições para sistemas de alimentação de potência ininterrupta (nobreaks) on-line, interativo e stand-by, que utilizam bateria como fonte de energia armazenada.
NBR14683-1 de 07/2012 - Sistemas de subdutos de polietileno (PE) para infraestrutura de telecomunicações - Parte 1: Requisitos para subdutos de parede externa lisa
Esta Norma estabelece os requisitos para fabricação e recebimento de subdutos de PE de parede externa lisa, para instalações de infraestrutura de telecomunicações, podendo estar embutidos, enterrados ou aparentes, não sujeitos a intempéries.
NBRIEC60749-6 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 6: Armazenamento em alta temperatura
A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é ensaiar e determinar os efeitos da alta temperatura de armazenamento em todos os dispositivos eletrônicos semicondutores sem o estresse elétrico aplicado. Este ensaio é considerado não destrutivo, mas deve ser ...
NBRIEC60749-4 de 06/2010 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)
Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos.
NBRIEC60749-1 de 02/2010 - Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades
Esta parte da NBRIEC60749 é aplicável aos dispositivos semicondutores (componentes discretos e circuitos integrados) e define disposições comuns a todas as outras partes da série.
NBRIEC60749-3 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa
A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a...
NBRIEC60749-25 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 25: Ciclagem térmica
Esta parte da NBRIEC60749 fornece um procedimento de ensaio para determinar a capacidade de dispositivos semicondutores, componentes e/ou placas de montagem de suportar estresse mecânico induzido pela alternância entre os extremos de alta temperatura e...
NBRIEC60749-33 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização
O ensaio de resistência à umidade acelerada sem polarização é realizado para avaliar a resistência à umidade dos dispositivos de estado sólido com encapsulamento não hermético, usando umidade condensada ou ambiente úmido com vapor saturado. Este é um e...
NBR11188 de 01/2015 - Dispositivos a semicondutor - Circuitos integrados analógicos - Métodos gerais de ensaio e medição
Prescreve métodos gerais de ensaio e medição, aplicáveis à maior parte dos amplificadores lineares integrados, incluindo também amplificadores operacionais. Prescreve também métodos gerais de ensaio e medição, aplicáveis aos reguladores de tensão, com ...
NBR11468 de 10/2012 - Conversor a semicondutores - Conversor autocomutado
Fixa características exigíveis para conversores a semicondutores autocomutados. Aplicam-se a todos os tipos de inversores a semicondutores e a conversores a semicondutores que contenham pelo menos parte do tipo autocomutado, inclusive conversores indir...
NBR10292 de 11/2010 - Compostos de borracha, anti-estáticos e semicondutores - Determinação da resistividade volumétrica
Prescreve método de ensaio de resistividade volumétrica para composto de borracha anti-estáticos e eletricamente condutores, em forma de lâmina.
NBR7874 de 08/2010 - Dispositivos semicondutores e circuitos integrados
Define termos relacionados com dispositivos semicondutores e circuitos integrados, utilizados em equipamentos eletrônicos.
NBR9933 de 08/2010 - Dispositivos semicondutores, dispositivos discretos e circuitos integrados - Circuitos integrados analógicos
Fixa valores limites e características essenciais dos circuitos integrados analógicos, bem como os parâmetros mínimos que devem acompanhar as folhas de especificação destes dispositivos.
NBR11875 de 12/2003 - Conversor a semicondutores - Sistemas de alimentação de potência ininterrupta
Fixa condições exigíveis para definir um sistema de alimentação de potência ininterrupta (UPS) completo em termos de seu desempenho e não em termos de unidades funcionais de subsistemas individuais.
NBRIEC60749-30 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 30: Pré-condicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos, antes de ensaios de confiabilidade
Estabelece um procedimento-padrão para determinação do precondicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos (SMD), antes de ensaios de confiabilidade.
NBR12526 de 11/2007 - Símbolos gráficos de semicondutores e tubos eletrônicos
Estabelece símbolos gráficos de semicondutores e tubos eletrônicos.
NBR5452 de 07/2006 - Símbolos gráficos de semicondutores
Estabelece símbolos gráficos usados, em desenhos técnicos ou diagramas de circuitos, para representar componentes, equipamentos, relações entre estes, ou efeitos físicos que integram o funcionamento parcial ou completo dos mesmos.
NBR15204 de 03/2005 - Conversor a semicondutor - Sistema de alimentação de potência ininterrupta com saída em corrente alternada (nobreak) - Segurança e desempenho
- Esta Norma fixa as características mínimas exigíveis de segurança e desempenho para conversor a semicondutor - sistema de alimentação de potência ininterrupta com sáida em corrente alternada (nobreak) de tensão monofásico, com saída de tensão alternada... Conversor a semicondutor - Sistema de alimentação de potência ininterrupta com saída em corrente alternada (nobreak) - Segurança e desempenho
NBR15014 de 12/2003 - Conversor a semicondutor - Sistema de alimentação de potência ininterrupta, com saída em corrente alternada (nobreak) - Terminologia
- Esta Norma define os termos e definições para sistemas de alimentação de potência ininterrupta (nobreaks) on-line, interativo e stand-by, que utilizam bateria como fonte de energia armazenada. Conversor a semicondutor - Sistema de alimentação de potência ininterrupta, com saída em corrente alternada (nobreak) - Terminologia
NBR14683-1 de 07/2012 - Sistemas de subdutos de polietileno (PE) para infraestrutura de telecomunicações - Parte 1: Requisitos para subdutos de parede externa lisa
- Esta Norma estabelece os requisitos para fabricação e recebimento de subdutos de PE de parede externa lisa, para instalações de infraestrutura de telecomunicações, podendo estar embutidos, enterrados ou aparentes, não sujeitos a intempéries. Sistemas de subdutos de polietileno (PE) para infraestrutura de telecomunicações - Parte 1: Requisitos para subdutos de parede externa lisa
NBRIEC60749-6 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 6: Armazenamento em alta temperatura
- A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é ensaiar e determinar os efeitos da alta temperatura de armazenamento em todos os dispositivos eletrônicos semicondutores sem o estresse elétrico aplicado. Este ensaio é considerado não destrutivo, mas deve ser ... Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 6: Armazenamento em alta temperatura
NBRIEC60749-4 de 06/2010 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)
- Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos. Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)
NBRIEC60749-1 de 02/2010 - Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades
- Esta parte da NBRIEC60749 é aplicável aos dispositivos semicondutores (componentes discretos e circuitos integrados) e define disposições comuns a todas as outras partes da série. Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades
NBRIEC60749-3 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa
- A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a... Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa
NBRIEC60749-25 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 25: Ciclagem térmica
- Esta parte da NBRIEC60749 fornece um procedimento de ensaio para determinar a capacidade de dispositivos semicondutores, componentes e/ou placas de montagem de suportar estresse mecânico induzido pela alternância entre os extremos de alta temperatura e... Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 25: Ciclagem térmica
NBRIEC60749-33 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização
- O ensaio de resistência à umidade acelerada sem polarização é realizado para avaliar a resistência à umidade dos dispositivos de estado sólido com encapsulamento não hermético, usando umidade condensada ou ambiente úmido com vapor saturado. Este é um e... Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização
NBR11188 de 01/2015 - Dispositivos a semicondutor - Circuitos integrados analógicos - Métodos gerais de ensaio e medição
- Prescreve métodos gerais de ensaio e medição, aplicáveis à maior parte dos amplificadores lineares integrados, incluindo também amplificadores operacionais. Prescreve também métodos gerais de ensaio e medição, aplicáveis aos reguladores de tensão, com ... Dispositivos a semicondutor - Circuitos integrados analógicos - Métodos gerais de ensaio e medição
NBR11468 de 10/2012 - Conversor a semicondutores - Conversor autocomutado
- Fixa características exigíveis para conversores a semicondutores autocomutados. Aplicam-se a todos os tipos de inversores a semicondutores e a conversores a semicondutores que contenham pelo menos parte do tipo autocomutado, inclusive conversores indir... Conversor a semicondutores - Conversor autocomutado
NBR10292 de 11/2010 - Compostos de borracha, anti-estáticos e semicondutores - Determinação da resistividade volumétrica
- Prescreve método de ensaio de resistividade volumétrica para composto de borracha anti-estáticos e eletricamente condutores, em forma de lâmina. Compostos de borracha, anti-estáticos e semicondutores - Determinação da resistividade volumétrica
NBR7874 de 08/2010 - Dispositivos semicondutores e circuitos integrados
- Define termos relacionados com dispositivos semicondutores e circuitos integrados, utilizados em equipamentos eletrônicos. Dispositivos semicondutores e circuitos integrados
NBR9933 de 08/2010 - Dispositivos semicondutores, dispositivos discretos e circuitos integrados - Circuitos integrados analógicos
- Fixa valores limites e características essenciais dos circuitos integrados analógicos, bem como os parâmetros mínimos que devem acompanhar as folhas de especificação destes dispositivos. Dispositivos semicondutores, dispositivos discretos e circuitos integrados - Circuitos integrados analógicos
NBR11875 de 12/2003 - Conversor a semicondutores - Sistemas de alimentação de potência ininterrupta
- Fixa condições exigíveis para definir um sistema de alimentação de potência ininterrupta (UPS) completo em termos de seu desempenho e não em termos de unidades funcionais de subsistemas individuais. Conversor a semicondutores - Sistemas de alimentação de potência ininterrupta
NBRIEC60749-30 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 30: Pré-condicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos, antes de ensaios de confiabilidade
- Estabelece um procedimento-padrão para determinação do precondicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos (SMD), antes de ensaios de confiabilidade. Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 30: Pré-condicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos, antes de ensaios de confiabilidade
NBR12526 de 11/2007 - Símbolos gráficos de semicondutores e tubos eletrônicos
- Estabelece símbolos gráficos de semicondutores e tubos eletrônicos. Símbolos gráficos de semicondutores e tubos eletrônicos
NBR5452 de 07/2006 - Símbolos gráficos de semicondutores
- Estabelece símbolos gráficos usados, em desenhos técnicos ou diagramas de circuitos, para representar componentes, equipamentos, relações entre estes, ou efeitos físicos que integram o funcionamento parcial ou completo dos mesmos. Símbolos gráficos de semicondutores