Objetivo da Norma


A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a todos os tipos de encapsulamentos. Este ensaio é útil para a qualificação, monitoração do processo ou aceitação de lotes, ou de ambos.

Título em inglês

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Comitê

ELETRICIDADE

Número de páginas

2 páginas

Histórico

11/2016 - Publicada confirmação
01/2011 - Publicada edição

Baseada

IEC 60749-3 Ed. 1.0 b