*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização temporária de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.
*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização temporária de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.
A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a todos os tipos de encapsulamentos. Este ensaio é útil para a qualificação, monitoração do processo ou aceitação de lotes, ou de ambos.
Título em inglês
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Comitê
Número de páginas
2 páginas
Palavras-chave
| 11/2016 | Publicada confirmação | |
| 01/2011 | Publicada edição |
| IEC 60749-3 Ed. 1.0 b |
Normas recomendadas
NBRISO/IEC17025 de 12/2017
Requisitos gerais para a competência de laboratórios de ensaio e calibração
NBRNM247-3 de 02/2002
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