*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização temporária de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.
*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização temporária de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.
Esta parte da NBRIEC60749 é aplicável aos dispositivos semicondutores (componentes discretos e circuitos integrados) e define disposições comuns a todas as outras partes da série.
Título em inglês
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Comitê
Número de páginas
3 páginas
| 02/2022 | Publicada confirmação | |
| 11/2016 | Publicada confirmação | |
| 02/2010 | Publicada edição |
| IEC 60749-1 |
| IEC 60050 (todas as partes) |
| IEC 60747 (todas as partes) |
| IEC 60748 (todas as partes) |
Normas recomendadas
NBRISO/IEC17025 de 12/2017
Requisitos gerais para a competência de laboratórios de ensaio e calibração
NBRNM247-3 de 02/2002
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NBRIEC60749-3 de 01/2011
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