*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.
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A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é ensaiar e determinar os efeitos da alta temperatura de armazenamento em todos os dispositivos eletrônicos semicondutores sem o estresse elétrico aplicado. Este ensaio é considerado não destrutivo, mas deve ser preferencialmente utilizado para a qualificação de dispositivos. Se tais dispositivos forem utilizados para entrega, os efeitos do ensaio de estresse altamente acelerado precisam ser avaliados.
Título em inglês
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Comitê
Número de páginas
2 páginas
Palavras-chave
| 11/2016 | Publicada confirmação | |
| 01/2011 | Publicada edição |
| IEC 60749-6 Ed. 1.0 b |
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