Objetivo da Norma


A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é ensaiar e determinar os efeitos da alta temperatura de armazenamento em todos os dispositivos eletrônicos semicondutores sem o estresse elétrico aplicado. Este ensaio é considerado não destrutivo, mas deve ser preferencialmente utilizado para a qualificação de dispositivos. Se tais dispositivos forem utilizados para entrega, os efeitos do ensaio de estresse altamente acelerado precisam ser avaliados.

Título em inglês

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Comitê

ELETRICIDADE

Número de páginas

2 páginas

Histórico

11/2016 - Publicada confirmação
01/2011 - Publicada edição

Baseada

IEC 60749-6 Ed. 1.0 b