Norma Brasileira
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Vigente

*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.

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Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos.

Título em inglês

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Comitê

ELETRICIDADE

Número de páginas

6 páginas

11/2016 Publicada confirmação
06/2010 Publicada edição
IEC 60749-1
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