Objetivo da Norma


Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos.

Título em inglês

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Comitê

ELETRICIDADE

Número de páginas

6 páginas

Histórico

11/2016 - Publicada confirmação
06/2010 - Publicada edição

Baseada

IEC 60749-1