Normas do comitê: CB-003: ELETRICIDADE com a palavra-chave: MÉTODO DE ENSAIO

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Ensaio em isolador suporte de porcelana ou vidro, uso interno ou externo, para tensões acima de 1000 V
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NBR11790 de 02/2009 - Ensaio em isolador suporte de porcelana ou vidro, uso interno ou externo, para tensões acima de 1000 V

Esta Norma se aplica a unidades ou colunas de isoladores suporte de porcelana ou vidro, para uso interno e externo, em instalações elétricas ou equipamentos que operam em corrente alternada com tensões acima de 1000 V e freqüência abaixo de 100 Hz. Thi...

Ensaios relativos ao risco de fogo - Parte 11-5: Ensaio de chama — Método de Ensaio de chama de agulha — Aparelhagem, dispositivo de ensaio de verificação e orientações
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NBRIEC60695-11-5 de 12/2020 - Ensaios relativos ao risco de fogo - Parte 11-5: Ensaio de chama — Método de Ensaio de chama de agulha — Aparelhagem, dispositivo de ensaio de verificação e orientações

Esta Parte da NBRIEC60695 especifica o ensaio de chama de agulha para simular o efeito de uma pequena chama que pode surgir de condições de falha, a fim de avaliar o perigo de incêndio por simulação. Os resultados deste ensaio podem ser utilizados com...

Ferragens eletrotécnicas e acessórios para cabos OPGW — Requisitos e métodos de ensaio
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NBR15874 de 09/2010 - Ferragens eletrotécnicas e acessórios para cabos OPGW — Requisitos e métodos de ensaio

Esta Norma especifica os requisitos mínimos para as ferragens eletrotécnicas e acessórios, aplicados aos cabos OPGW (cabo pára-raios com fi bras ópticas), usados em linhas aéreas de transmissão de alta e extra-alta tensões. This Standard specifies the ...

Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 6: Armazenamento em alta temperatura
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NBRIEC60749-6 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 6: Armazenamento em alta temperatura

A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é ensaiar e determinar os efeitos da alta temperatura de armazenamento em todos os dispositivos eletrônicos semicondutores sem o estresse elétrico aplicado. Este ensaio é considerado não destrutivo, mas deve ser ...

Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades
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NBRIEC60749-1 de 02/2010 - Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades

Esta parte da NBRIEC60749 é aplicável aos dispositivos semicondutores (componentes discretos e circuitos integrados) e define disposições comuns a todas as outras partes da série.

Cabos ópticos — Ensaio de torção
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NBR13513 de 08/2009 - Cabos ópticos — Ensaio de torção

Esta Norma especifica um método para o ensaio de torção em cabos de fibras ópticas. This Standard prescribes the method of test for twist to fibre optical cables ISBN: 978-85-07-01693-9

Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 25: Ciclagem térmica
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NBRIEC60749-25 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 25: Ciclagem térmica

Esta parte da NBRIEC60749 fornece um procedimento de ensaio para determinar a capacidade de dispositivos semicondutores, componentes e/ou placas de montagem de suportar estresse mecânico induzido pela alternância entre os extremos de alta temperatura e...

Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa
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NBRIEC60749-3 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa

A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a...

Cabos ópticos — Ensaio de fluência — Método de ensaio
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NBR13516 de 11/2010 - Cabos ópticos — Ensaio de fluência — Método de ensaio

Esta Norma prescreve o método para o ensaio de fluência em cabos de fibras ópticas (cabos ópticos). This Standard prescribes the method of test for creep to fiber optical cables. ISBN: 978-85-07-02458-3

Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)
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NBRIEC60749-4 de 06/2010 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)

Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos.

Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização
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NBRIEC60749-33 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização

O ensaio de resistência à umidade acelerada sem polarização é realizado para avaliar a resistência à umidade dos dispositivos de estado sólido com encapsulamento não hermético, usando umidade condensada ou ambiente úmido com vapor saturado. Este é um e...

Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 30: Pré-condicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos, antes de ensaios de confiabilidade
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NBRIEC60749-30 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 30: Pré-condicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos, antes de ensaios de confiabilidade

Estabelece um procedimento-padrão para determinação do precondicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos (SMD), antes de ensaios de confiabilidade.

Ensaio em isolador suporte de porcelana ou vidro, uso interno ou externo, para tensões acima de 1000 V

NBR11790 de 02/2009 - Ensaio em isolador suporte de porcelana ou vidro, uso interno ou externo, para tensões acima de 1000 V

  • Esta Norma se aplica a unidades ou colunas de isoladores suporte de porcelana ou vidro, para uso interno e externo, em instalações elétricas ou equipamentos que operam em corrente alternada com tensões acima de 1000 V e freqüência abaixo de 100 Hz. Thi... Ensaio em isolador suporte de porcelana ou vidro, uso interno ou externo, para tensões acima de 1000 V
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Ensaios relativos ao risco de fogo - Parte 11-5: Ensaio de chama — Método de Ensaio de chama de agulha — Aparelhagem, dispositivo de ensaio de verificação e orientações

NBRIEC60695-11-5 de 12/2020 - Ensaios relativos ao risco de fogo - Parte 11-5: Ensaio de chama — Método de Ensaio de chama de agulha — Aparelhagem, dispositivo de ensaio de verificação e orientações

  • Esta Parte da NBRIEC60695 especifica o ensaio de chama de agulha para simular o efeito de uma pequena chama que pode surgir de condições de falha, a fim de avaliar o perigo de incêndio por simulação. Os resultados deste ensaio podem ser utilizados com... Ensaios relativos ao risco de fogo - Parte 11-5: Ensaio de chama — Método de Ensaio de chama de agulha — Aparelhagem, dispositivo de ensaio de verificação e orientações
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Ferragens eletrotécnicas e acessórios para cabos OPGW — Requisitos e métodos de ensaio

NBR15874 de 09/2010 - Ferragens eletrotécnicas e acessórios para cabos OPGW — Requisitos e métodos de ensaio

  • Esta Norma especifica os requisitos mínimos para as ferragens eletrotécnicas e acessórios, aplicados aos cabos OPGW (cabo pára-raios com fi bras ópticas), usados em linhas aéreas de transmissão de alta e extra-alta tensões. This Standard specifies the ... Ferragens eletrotécnicas e acessórios para cabos OPGW — Requisitos e métodos de ensaio
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Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 6: Armazenamento em alta temperatura

NBRIEC60749-6 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 6: Armazenamento em alta temperatura

  • A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é ensaiar e determinar os efeitos da alta temperatura de armazenamento em todos os dispositivos eletrônicos semicondutores sem o estresse elétrico aplicado. Este ensaio é considerado não destrutivo, mas deve ser ... Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 6: Armazenamento em alta temperatura
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Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades

NBRIEC60749-1 de 02/2010 - Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades

  • Esta parte da NBRIEC60749 é aplicável aos dispositivos semicondutores (componentes discretos e circuitos integrados) e define disposições comuns a todas as outras partes da série. Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades
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Cabos ópticos — Ensaio de torção

NBR13513 de 08/2009 - Cabos ópticos — Ensaio de torção

  • Esta Norma especifica um método para o ensaio de torção em cabos de fibras ópticas. This Standard prescribes the method of test for twist to fibre optical cables ISBN: 978-85-07-01693-9 Cabos ópticos — Ensaio de torção
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Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 25: Ciclagem térmica

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  • Esta parte da NBRIEC60749 fornece um procedimento de ensaio para determinar a capacidade de dispositivos semicondutores, componentes e/ou placas de montagem de suportar estresse mecânico induzido pela alternância entre os extremos de alta temperatura e... Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 25: Ciclagem térmica
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Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa

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  • A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a... Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa
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Cabos ópticos — Ensaio de fluência — Método de ensaio

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  • Esta Norma prescreve o método para o ensaio de fluência em cabos de fibras ópticas (cabos ópticos). This Standard prescribes the method of test for creep to fiber optical cables. ISBN: 978-85-07-02458-3 Cabos ópticos — Ensaio de fluência — Método de ensaio
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Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)

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  • Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos. Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)
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Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização

NBRIEC60749-33 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização

  • O ensaio de resistência à umidade acelerada sem polarização é realizado para avaliar a resistência à umidade dos dispositivos de estado sólido com encapsulamento não hermético, usando umidade condensada ou ambiente úmido com vapor saturado. Este é um e... Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização
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Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 30: Pré-condicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos, antes de ensaios de confiabilidade

NBRIEC60749-30 de 01/2011 - Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 30: Pré-condicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos, antes de ensaios de confiabilidade

  • Estabelece um procedimento-padrão para determinação do precondicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos (SMD), antes de ensaios de confiabilidade. Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 30: Pré-condicionamento de dispositivos de montagem em superfície não herméticos, antes de ensaios de confiabilidade
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