Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)
Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos.
Título em inglês
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Compatibilidade eletromagnética (EMC) - Parte 4-11: Técnicas de medição e ensaio — Ensaio de imunidade a quedas, curtas interrupções e variações de tensão para equipamentos com corrente de entrada de até 16 A por fase
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