Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
4 páginas
02/2022 | Publicada confirmação | |
11/2016 | Publicada confirmação | |
01/2011 | Publicada edição |
IEC 60749-33 Ed. 1.0 b |
IEC 60749-24 Ed. 1.0 b |