Objetivo da Norma


Estabelece um procedimento-padrão para o ensaio e a classificação de dispositivos semicondutores, de acordo com suas suscetibilidades a dano ou degradação pela exposição a uma descarga eletrostática (ESD) definida como modelo de máquina (MM). Este procedimento pode ser utilizado como método alternativo ao ensaio de ESD modelo do corpo humano. O objetivo é fornecer ensaios de ESD confiáveis e repetíveis, de modo que classificações exatas possam ser realizadas.

Título em inglês

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine Model (MM)

Comitê

ELETRICIDADE

Número de páginas

9 páginas

Histórico

02/2011 - Publicada edição