*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.
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Estabelece um procedimento-padrão para o ensaio e a classificação de dispositivos semicondutores, de acordo com suas suscetibilidades a dano ou degradação pela exposição a uma descarga eletrostática (ESD) definida como modelo de máquina (MM). Este procedimento pode ser utilizado como método alternativo ao ensaio de ESD modelo do corpo humano. O objetivo é fornecer ensaios de ESD confiáveis e repetíveis, de modo que classificações exatas possam ser realizadas.
Título em inglês
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine Model (MM)
Comitê
Número de páginas
9 páginas
Palavras-chave
| 02/2011 | Publicada edição |
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