Objetivo da Norma


Esta parte da NBRIEC60749 abrange o Teste I (ensaio de corrente) e o ensaio latch-up de sobretensão de circuitos integrados.

Título em inglês

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

Comitê

ELETRICIDADE

Número de páginas

19 páginas

Histórico

11/2016 - Publicada confirmação
03/2011 - Publicada edição

Baseada

IEC 60749-29 Ed. 1.0 b