*Trata-se de uma campanha promocional que permite a visualização de uma norma, a qual está sendo pesquisada, somente uma vez, mediante cadastro e validação de e-mail, que será usado para fins de divulgação de produtos e serviços Target. O usuário beneficiário dessa campanha promocional declara estar ciente dessas condições, dos nossos Termos e Condições de Uso e Política de Privacidade.
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Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
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02/2022 | Publicada confirmação | |
11/2016 | Publicada confirmação | |
07/2012 | Publicada nova edição | |
01/2011 | Publicada edição |
IEC 60749-23 Ed. 1.1 b |
IEC 60747-1 Ed. 2.0 b |
IEC 60747-1 Ed. 2.1 b |
IEC 60747-10 Ed. 2.0 b |
IEC 60747-11 Ed. 1.0 b |
IEC 60747-14-1 Ed. 2.0 b |
IEC 60747-14-3 Ed. 2.0 b |
IEC 60747-14-4 Ed. 1.0 b |
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IEC 60747-16-3 Ed. 1.0 b |
IEC 60747-16-3 Ed. 1.1 b |
IEC 60747-16-4 Ed. 1.0 b |
IEC 60747-16-4 Ed. 1.1 b |
IEC 60747-2 Ed. 2.0 b |
IEC 60747-2-2 Ed. 1.0 b |
IEC 60747-3 Ed. 1.0 b |
IEC 60747-4 Ed. 2.0 b |
IEC 60747-5-1 Ed. 1.0 b |
IEC 60747-5-1 Ed. 1.2 b |
IEC 60747-5-2 Ed. 1.0 b |
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IEC 60747-8 Ed. 2.0 b |
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IEC 60747-8-3 Ed. 1.0 b |
IEC 60747-8-4 Ed. 1.0 b |
IEC 60747-9 Ed. 2.0 b |
IEC 60749-34 Ed. 2.0 b |